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Berührungsloses Schichtwiderstand, Metallschichtdicken, Anisotropie, optische Transmission und Leitfähigkeits-Messgerät
EddyCus® TF lab 4040 Series
Der EddyCus® TF lab 4040 ist ein Einzelpunktmessgerät zur berührungsfreien Messung des Schichtwiderstands, insbesondere von großen Substraten. Das flexibel konfigurierbare Tischgerät erlaubt die präzise manuelle Messung von leitfähigen Dünnschichten und der Schichtdicke von metallischen Schichten. Das Spektrum der Anwendungen umfasst die Messung von dünnen leitfähigen Schichten, dotierten Wafern und leitfähigen Polymerschichten.
Vorteile
- Berührungslose Messung in Echtzeit
- Hohe Genauigkeit und sehr gute Widerholgenauigkeit
- Präzise Schichtwiderstand-Messung von leitfähigen Dünnschichten auf großen Substraten
- Konventionelle leitfähige Dünnschichten
- Gitter und Drahtstrukturen
- Mehrschichtsysteme
- Verdeckte und gekapselte leitfähige Schichten
- Schichtdickemessung von metallischen Schichten [nm]
- Keine Beeinträchtigung von empfindlichen Schichten
- Kein Verschleiß
- Softwareunterstütztes manuelles Mapping
- Software Development Kit Testautomatisierung mit Kundenprogrammen
- Bestimmung von verdeckten leitfähigen Schichten
- Charakterisierung von verkapselten Substraten
- Export von Messergebnissen
- Platzsparende Monitor-Integration (für Messung via Touchscreen und Datenauswertung)
Varianten
- Schichtwiderstandmessgerät – EddyCus® TF lab 4040SR [mOhm/sq, Ohm/sq, OPS]
PDF (2,8 MB)
- Metallschichtdickenmessgerät – EddyCus® TF lab 4040MT [nm, µm, mm, mil]
PDF (2,7 MB)
- Hybridsystem: Kombination von optischer und elektrischer Messung – EddyCus® TF lab 4040HS (Schichtwiderstand + optische Transmission und Reflektanz)
PDF (2,4 MB)
- Elektrische Anisotropie Messgerät – EddyCus® TF lab 4040A
PDF (923,3 KB)
- Nassbeschichtungsdicke und Restfeuchte – EddyCus® TF lab 4040HF
PDF (1,1 MB)
Eigenschaften
- Technologie: Berührungsfreies Wirbelstromverfahren
- Einzelpunktmessung
- Qualitätssicherung
- Substratgrößen: 10 x 10 mm² bis 400 x 400 mm² (Messfeldgröße: 760 mm x 660 mm)
- Messbereich: 0,0001 – 100.000 Ohm/sq
Einsatzgebiete
- Architekturglas (LowE-Schichten)
- Displays, Touchscreens und Flachbildschirme
- OLED & LED-Anwendungen
- Smart-glass Anwendungen
- Graphen-Schichten
- Photovoltaik-Wafer und Zellen
- Halbleiterwafer
- Metallische Schichten und Wafermetallisierungen
- Enteisungsschichten- und Heizanwendungen
- Batterieelektroden
- Leitfähiges Papier und leitfähige Textilien
Bitte wählen Sie im Folgenden Ihren bevorzugten Messparameter
EddyCus® TF lab 4040SR – Berührungsfreies Schichtwiderstand-Messgerät
Der EddyCus® TF lab 4040SR ist ein Einzelpunkt-Messsytem, dass den Schichtwiderstand auf Proben mit einer Größe bis zu 400 mm x 400 mm misst. Die Wirbelstromsensoren des Messsystems induzieren einen schwachen Ström in leitende Folien und Materialien. Durch die induzierten Ströme wird ein elektromagnetisches Feld erzeugt. Das Feld korreliert mit dem Schichtwiderstand des Messobjekts. Das Wirbelstromverfahren ist unabhängig von Oberflächenrauheit oder Oberflächenmorphologie. Des Weiteren wird kein spezieller Probenkontakt oder Probenvorbereitung, wie es von der 2-, 4-Punkt-Methode (2PP, 4PP), der Hall-Effekt- oder Van-der-Pauw-Methode bekannt ist, benötigt. Die verwendete Messmethode benötigt weder den Aufbau von besonderen Teststrukturen noch wird sie durch die Oberflächenrauheit des Materials und auch nicht von nichtleitenden Verkapselungen und Passivierungsschichten beeinflusst. Weil es sich um ein kontaktfreies Prüfverfahren handelt, wird die getestete Dünnschicht durch die Messung physisch nicht beeinflusst. Wirbelstrominstrumente haben dadurch eine lange Lebensdauer, da kein mechanischer Verschleiß auftritt. Da kein Kontakt zur Probe herstellt werden muss ist eine hohe Geschwindigkeit, eine hohe Wiederholgenauigkeiten und Genauigkeiten möglich. Diese Eigenschaften sind für die systematische Qualitätssicherung verschiedener Dünnschichten in F&E- und Prüflaboren von Vorteil sind. Die EddyCus-Geräte können durch die SURAGUS-Software mit verschiedenen Datenaufzeichnungs- und Exportfunktionen oder durch eine eigene Kundensoftware basierend auf dem SURAGUS-Software-Development-Kit gesteuert werden.
Software und Bedienung
- Hohe Bedienungsfreundlichkeit
- Intuitive, Touchdisplay-fähige Navigation
- Echtzeit-Erfassung von Schichtwiderstand und Schichtdicke
- Sammlung und Speicherung von Datensätzen sowie Datenexport-Funktionen
- Möglichkeit des softwareunterstützten, manuellen Schichtwiderstand-Mappings
Datenblatt des EddyCus® TF lab 4040SR
| Measurement technology | Non-contact eddy current sensor |
| Substrates | Foils, glass, wafer, etc. |
| Substrate area | 29.5“ x 25.6“ / 750 mm x 650 mm (for 400 mm x 400 mm samples) |
| Max. sample thickness/ sensor gap | 3 / 5 / 10 / 25 mm (defined by the thickest sample) |
| Thickness measurement range of metal films (e.g. copper) | 2 nm – 2 mm (in accordance with sheet resistance ()) |
| Device dimensions (w/h/d) | 30“ x 12“ x 26“ / 760 mm x 310 mm x 660 mm |
| Weight | 20 kg |
| Further available features | Sheet resistance measurement, Metal thickness tester, Anisotropy sensor , Optical transmittance, reflectance, haze |
| VLSR | LSR | MSR | HSR | VHSR | |
|---|---|---|---|---|---|
| 6 decades are measurable by one sensor, but with slightly affected accuracy | |||||
| Range [Ohm/sq] | 0.0001 – 0.1 | 0.1 – 10 | 0.1 – 100 | 10 – 2000 | 1,000 – 200,000 |
| Accuracy / Bias | ± 1% | ± 1 – 3% | ± 3 – 5% | ||
| Repeatability (2σ) | < 0.3% | < 0.5% | < 0.3% | ||
| VLSR – Very Low Sheet Resistance , LSR – Low Sheet Resistance , MSR – Medium Sheet Resistance , HSR – High Sheet Resistance , VHSR – Very High Sheet Resistance | |||||
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- Fragen zum Produkt
- Anfragen bezüglich einer Demo-Messung
- Anfragen bezüglich einer Online oder Live-Demonstration
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Bilder des EddyCus® TF lab 4040SR
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Produktübersicht weiterer Schichtwiderstand-Messsysteme
EddyCus® TF lab 4040MT – Berührungsfreies Einzelpunkt Metallschichtdicke-Messgerät
Der EddyCus® TF lab 4040MT wurde konzipiert, um die Metallschichtdicke von transparenten und nicht-transparenten Schichten berührungslos zu messen. Durch die Verwendung eines Wirbelstromsensor-Paars erfolgt die Messung berührungsfrei. Die Messung der Metallschichtdicke von Materialien mit bekannter oder konstanter Leitfähigkeit kann daher in Echtzeit durchgeführt werden. Die berührungslose Prüftechnik ermöglicht eine präzise Messung in einem breiten Dickenmessbereich. Dieser beginnt bei einer Schichtdicke von wenigen Nanometern bis hin zur Charakterisierung von dicken Metallschichten und Platten im Millimeterbereich. Der EddyCus® TF lab 4040MT ist in der Lage, Metallschichten zu charakterisieren, die von nichtleitenden Materialien verdeckt sind. SURAGUS bietet materialspezifische Setups für sehr dünne Schichten, sehr dicke Metalle und häufig verwendete Legierungen. Das Wirbelstromverfahren ist äußerst robust und zeichnet sich durch eine hohe Wiederholgenauigkeit und hohe Präzision aus. Ein weiterer Vorteil besteht darin, dass es weder optische Transparenz noch einen physikalischen Kontakt zur Ermittlung der Metallschichtdicke erfordert. Daher kann es in sehr vielen Anwendungsbereichen z.B. bei schnellen Qualitätschecks wie Stichproben oder einer systematischen Qualitätssicherung angewendet werden.
Software und Bedienung
- Hohe Bedienungsfreundlichkeit
- Intuitive, Touchdisplay-fähige Navigation
- Echtzeit-Erfassung von Schichtwiderstand und Schichtdicke
- Sammlung und Speicherung von Datensätzen sowie Datenexport-Funktionen
- Möglichkeit des softwareunterstützten, manuellen Schichtwiderstand-Mappings
Datenblatt des EddyCus® TF lab 4040MT
| Measurement technology | Non-contact eddy current sensor |
| Substrates | Foil, glass, wafer, etc. |
| Substrate area | 29.5“ x 25.6“ / 750 mm x 650 mm (for 400 mm x 400 mm samples) |
| Max. sample thickness/ sensor gap | 3 / 5 / 10 / 25 mm (defined by the thickest sample) |
| Metal thickness range Accuracies depend on the selected setup and the type / conductivity of the metal (e.g. copper, aluminum, silver) |
Low 1 – 10 nm; 2 – 5 % accuracy Standard 10 – 1,000 nm; 1 – 3 % accuracy High 1 – 100 µm; 0.5 – 3 % accuracy |
| Metal thickness calibration | Direct thickness calibration / sheet resistance conversion |
| Device dimensions (w/h/d) | 30“ x 12“ x 26“ / 760 mm x 310 mm x 660 mm |
| Weight | 20 kg |
| Further available features / other tool configurations | Sheet resistance measurement / conductivity / resistivity / emissitivity / permeability (beta) / electrical anisotropy / optical transmittance / optical reflectance / haze |
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Produktübersicht weiterer Metallschichtdicken-Messsysteme
EddyCus® TF lab 4040HS – Berührungsfreies Messgerät für die Messung des Schichtwiderstands, der optischen Transmission, Reflektanz und Haze
Der EddyCus® TF lab 4040HS ermöglicht die gleichzeitige Messung von
- Schichtwiderstand [Ohm/sq]
- Optische Transmission [%] / Optische Reflektanz [%] / Absorptionsgrad / Optische Dichte
Die Herausforderung bei der Entwicklung und Produktion transparenter, leitfähiger Schichten besteht darin, den bestmöglichen Kompromiss zu erreichen zwischen:
- Niedriger Schichtwiderstand [Ohm/sq]
- Hohe optische Transmission [%]
- Niedrige Kosten [z.B. Euro/m²]
Abhängig vom Anwendungsbereich müssen der Schichtwiderstand und die optische Transmission / optische Dichte jeweils ein bestimmtes Niveau einhalten. Zudem sind die Homogenität von Schichtwiderstand und Transparenz sowie die lokale Fehlerfreiheit von Interesse.
Vorteile
- Berührungslose und simultane Echtzeit-Messung von Schichtwiderstand und optischer Transparenz
Anwendungen
- Schichtwiderstand und optische Transmission
- Optimierung von Schichtsystemen
- Einzelpunktmessung
- Qualitätskontrolle, Wareneingangskontrolle, Warenausgangskontrolle
- Substratgrößen: 10 x 10 mm² bis 400 x 400 mm²
- Messbereich: 0,001 – 1.000 Ohm/sq Schichtwiderstand und 0 – 100 % optische Transmission
Software und Bedienung
- Hohe Bedienungsfreundlichkeit
- Intuitive, Touchdisplay-fähige Navigation
- Echtzeit-Erfassung von Schichtwiderstand und Schichtdicke
- Sammlung und Speicherung von Datensätzen sowie Datenexport-Funktionen
- Möglichkeit des softwareunterstützten, manuellen Schichtwiderstand-Mappings
Berührungsfreies Messsystem für große Proben SURAGUS EddyCus® TF lab 4040HS
Datenblatt des EddyCus® TF lab 4040HS
| Measurement technology | Non-contact eddy current sensor and optical sensor |
| Substrates | Foils, glass, wafer, etc. |
| Substrate area | 29.5“ x 26.5“ / 750 mm x 650 mm (for 400 mm x 400 mm samples) |
| Max. sample thickness / sensor gap | 1 / 2 / 5 / 10 mm (defined by the thickes sample) |
| Sheet resistance range | Standard 0.01 – 1,000 Ohm/sq; 1 to 5 % accuracy |
| Thickness measurement of thin films (e.g. Copper) | 2 nm – 2 mm (in accordance with sheet resistance) |
| Spectral resolution* | 0.27 nm |
| Spectral optical transmittance, reflectance range | 0 – 100 % , resolution of 0.1 % |
| Spectral range* | 400 – 1,100 nm or 220 – 2,000 nm |
| Integration time | 1 s or 50 ms – 10 minutes |
| Device dimensions (w/h/d) / weight | 30“ x 12“ x 26“ / 760 mm x 310 mm x 660 mm / 30 kg |
| Further available features | Spectral haze measurement in transmission |
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EddyCus® TF lab 4040A – Berührungsfreies Messsystem für die Messung der elektrischen Anisotropie und des Schichtwiderstands
Der EddyCus® TF lab 4040A wurde entwickelt, um die Richtung des Schichtwiderstands und damit die elektrische Anisotropie zu bestimmen. Das Gerät ist für Produkte relevant, die eine hohe optische Transparenz mit einer guten Leitfähigkeit in einer bestimmten Richtung benötigen.
Für die Herstellung bestimmter Schichten sind anisotrope Schichtwiderstände wichtig, um eine möglichst effiziente Beschichtung zu erreichen. SURAGUS bietet Schichtwiderstand-Messgeräte mit integriertem Schichtwiderstands-Anisotropiesensor zur präzisen Bestimmung und Messung gerichteter Schichtwiderstände.
Vorteile
- Kontaktfreie Messung in Echtzeit
- Präzise Schichtwiderstandsmessung (Ohm/sq oder mOhm/sq) und manuelles Mapping von leitfähigen Schichten bis zu einer Probengröße von 400 mm x 400 mm
- Dickenmessung für Substrate mit konstanter Leitfähigkeit (µm)
Begriffe und Konzept
- "Schichtwiderstandsanisotropie" bezieht sich auf einen Unterschied im elektrischen Widerstand, der parallel und senkrecht (quer) zur Maschinenrichtung gemessen wird
- Viele Draht- und Gitterstrukturen können einen anisotropen Flächenwiderstand aufweisen
Elektrische Anisotropie…
- …kann entsprechend der Anordnung des Kontaktmusters optimiert werden
- …kann Material einsparen und das Verhältnis von optischer Transparenz zu Schichtwiderstand verbessern
Informationen
- Schichtwiderstand (Ohm/sq)
- Maschinenrichtung MD (Ohm/sq)
- Traversierrichtung TD (Ohm/sq)
- Kombinierter Schichtwiderstand (Ohm/sq)
- Anisotropie
- Verhältnis TD/MD
- Anisotropie (%)
Typische Materialien
- Nano-drähte (Ag, Pt, Au etc.)
- Metallgewebe und -gitter (Cu, Au, etc.)
- Karbon Nano Röhren
- Nanostäbe
Anisotropie Beschreibung
Datenblatt des EddyCus® TF lab 4040A
| Measurement technology | Non-contact eddy current sensor with directed current induction |
| Substrates | Foils, glass, wafer, etc. |
| Substrate area | 29.5” x 25.6” / 750 mm x 650 mm (for 400 mm x 400 mm samples) |
| Max. sample thickness / sensor gap | 3 / 5 / 10 / 25 mm (defined by the thickest sample) |
| Sheet resistance range | 0.01 – 1,000 Ohm/sq; 1 to 5 % accuracy |
| Anisotropy range (TD/MD) | 0.33 – 3 (larger upon request) |
| Device dimensions (w/h/d) | 30” x 12” x 26” / 760 mm x 310 mm x 660 mm |
| Weight | 20 kg |
| Further available features | Metal thickness, optical transmittance and reflectance, sheet resistance, emissivity, resistivity and anisotropy measurement |
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Produktübersicht weiterer Schichtwidertstand und elektrische Anisotropie-Messsysteme
EddyCus® TF lab 4040HF – Messgerät für Permittivitäts-, Leitfähigkeits- und Permebilitätsbezogene Messaufgaben
Der EddyCus® TF lab 4040HF ist ein Multi-Parameter-Messsystem.
Software und Bedienung
- Hohe Bedienungsfreundlichkeit
- Intuitive, Touchdisplay-fähige Navigation
- Echtzeit-Erfassung von Schichtwiderstand und Schichtdicke
- Sammlung und Speicherung von Datensätzen sowie Datenexport-Funktionen
- Möglichkeit des softwareunterstützten, manuellen Schichtwiderstand-Mappings
Datenblatt des EddyCus® TF lab 4040HF
| Measurement technology | Non-contact high frequency eddy current sensor |
| Substrates | Foils, glass, various containers |
| Substrate area | 750 mm x 650 mm / 29.5“ x 25.6“ (for 400 mm x 400 mm samples) |
| Max. sample thickness/ sensor gap | Transmission setup: 3 – 50 mm (defined by the thickest sample) Reflection setups: infinite (only surface area is analyzed) |
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Measurement types |
Wet thickness (µm) / weight (g/m²) / drying status (%) / Conductivity (MS/m) / resistivity (mOhm cm) / permeability (H/m) Beta / Permittivity (F/m) Beta |
| Measurement range / accuracy | Depends on the measurement task, the material composition and the test object volume. Please consult the SURAGUS team |
| Device dimensions (w/h/d) | 30“ x 12“ x 26“ / 760 mm x 310 mm x 660 mm |
| Weight | 20 kg |
| Further available measurements | Sheet resistance, metal thickness, anisotropy, optical transmittance, reflectance, haze |
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