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Der EddyCus TF map 2525SR misst automatisiert und berührungsfrei den Schichtwiderstand von Substraten zwischen 50 x 50 mm² und 250 x 250 mm². Nach der manuellen Probenpositionierung erstellt das Messgerät selbständig ein akkurates Mapping des Schichtwiderstandes über die gesamte Probenfläche. Die Messung ist durch den Nutzer einfach konfigurierbar, z.B. für schnelle Messzeiten von unter 1 Minute oder für hohe örtliche Auflösung mit mehr als 100.000 Messpunkten.
Die Herausforderung bei der Entwicklung und Produktion transparenter, leitfähiger Schichten besteht darin, den bestmöglichen Kompromiss zu erreichen zwischen:
Abhängig vom Anwendungsbereich müssen der Schichtwiderstand und die optische Transparenz / optische Dichte jeweils ein bestimmtes Niveau einhalten. Zudem sind die Homogenität von Schichtwiderstand und Transparenz, die lokale Fehlerfreiheit und in manchen Schichten auch isotrope oder anisotrope Widerstände von Interesse. Um diesen Herausforderungen zu begegnen, bietet SURAGUS Hybrid-Lösungen für Forschung und Entwicklung sowie produzierende Unternehmen.
Der EddyCus TF map Hybrid ermöglicht die gleichzeitige Messung von
Der EddyCus TF map 2525SR mit optionalem Anistropie-Sensor erlaubt vollflächige ortsaufgelöste Mapping-Messungen des anisotropen Schichtwiderstands und der elektrischen Anisotropie auf Proben bis zu 250 x 250 mm².
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