Stephan Adam


Stephan Adam
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Welcher physikalische Parameter soll charakterisiert werden? Schichtwiderstand Schichtdicke von leitfähigen Schichten
Zusatzmessung Optische Transparenz Anisotropie Substratdickenmessung
Welchen Messgerätetyp suchen Sie? Einzelpunktmessgerät Mapping-Messgerät In-Line-System
Randbedingungen

wie Glas, Folie, Wafer

in Ohm/sq

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