Dünnschicht-Prüfung

Stephan Adam


Stephan Adam
Sales Manager

+49 (0) 351 321 11-522
info@suragus.com

Weitere Information eingeben
Welcher physikalische Parameter soll charakterisiert werden? Schichtwiderstand Schichtdicke von leitfähigen Schichten
Zusatzmessung Optische Transparenz Anisotropie Substratdickenmessung
Welchen Messgerättyp suchen Sie? Einzelpunktmessgerät Mapping Messgerät In-line System
Randbedingungen

wie Glas, Folie, Wafer

(in Ohm/sq)

Kommentar