EddyCus® TF dep 2020

Einzelpunkt Leitfähigkeitstestsystem 

Der EddyCus TF dep (depth profiler) ist ein industrielles Wirbelstrommesssystem für die Charakterisierung von flachen Proben mit einem Frequenzbereich von 10kHz bis 100MHz. Hohe Frequenzen eignen sich vor allem, um die Eindringtiefe der Wirbelströme auf Randschichten zu beschränken. Damit steigt die Sensitivität für Eigenschaften oder deren Variation in oberflächennahen Bereichen. Zusätzlich steigt die Empfindlichkeit des Messsystems mit höherer Messfrequenz. Im Ergebnis lassen sich auch Materialien mit sehr geringer Leitfähigkeit mit hoher Sensitivität charakterisieren. Darüber hinaus unterstützt das System die Erzeugung von Tiefenprofilen durch Mehrfrequenzmessung. Messparameter sind hierbei die Leitfähigkeit und die damit verbundenen Eigenschaften

SURAGUS TF dep 2020 Conductivity Tester

Anwendungen und Einstellungen

  • Leitfähigkeitsprüfung von Grundmaterialien mit unterschiedlicher Eindringtiefe
  • Materialunterscheidung und Sortierung
  • Metallschichtdickenprüfung von leitfähigen Schichten auf nichtleitfähigen Materialien
  • Lackdickenbestimmung (lift-off) auf leitfähigen Materialien
  • Charakterisierung von Materialeigenschaften wie Härte oder Mikrostruktur in dünnen oberflächennahen Schichten aus niedrig und stark leitenden Materialien

Systemeigenschaften

  • Kundenspezifische Sensorintegration nach Messaufgabe (Eindringtiefe, Messfleckgröße, Empfindlichkeiten)
  • Probenauflagefläche: 200 x 200 mm, Messung erfolgt mittig
  • Physische Positionierungshilfe für Proben vorhanden
  • Benutzerfreundliche Bediensoftware für die Datenaufnahme und den Datenexport

Weiteres Leitfähigkeitsprüfgerät

Stephan Adam


Stephan Adam
Sales Manager

+49 (0) 351 321 11-522
info@suragus.com

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Weitere Information eingeben
Welcher physikalische Parameter soll charakterisiert werden? Schichtwiderstand Schichtdicke von leitfähigen Schichten
Zusatzmessung Optische Transparenz Anisotropie Substratdickenmessung
Welchen Messgerättyp suchen Sie? Einzelpunktmessgerät Mapping Messgerät In-line System
Randbedingungen

wie Glas, Folie, Wafer

(in Ohm/sq)

Kommentar

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