EddyCus® TF portable 1010

Handgerät zum Messen des Schichtwiderstands

Der EddyCus TF portable ist ein handliches und portables Messgerät zur schnellen, berührenden Messung des Schichtwiderstands oder von korrelierenden Eigenschaften in der Produktion. Das Handgerät erlaubt auch die Messung verdeckter und verkapselter Schichten. Die Bedienung erfolgt über ein intuitives Touch Display.

Vorteile

  • Handliches tragbares Prüfgerät
  • Schnelle, manuelle Messung
  • Charakterisierung auch von verdeckten leitfähigen Schichten und verkapselten Substraten

Anwendungen

  • Berührende Schichtwiderstandsmessung von leitfähigen Dünnschichten
  • Einzelpunktmessung in Kontakt (mit konstantem Abstand auf Anfrage)
  • Planare Flächen ab 150 x 150 mm² (kleinere Flächen auf Anfrage)
  • Qualitätskontrolle, Wareneingangskontrolle, Warenausgangskontrolle

Va­ri­an­ten

  • Schicht­wi­der­stand R_sq in [Ohm/sq]
  • Schicht­di­cke me­tal­li­scher Schich­ten [µm]
  • Emis­si­vi­tät (e)

Einsatzgebiete

  • Architekturglas (LowE)
  • Spiegelschichten
  • Reflexionsschichten
  • Verpackungsfolien
  • Elektroden in Smart/ Elektrochromen Glas und Energiespeicher
  • Batterieelektroden
  • Leitfähiges Papier und leitfähige Textilien
Handheld Sheet Resistance Tester SURAGUS EddyCus TF Portable
SURAGUS Mobiles Schichtwiderstandsmessgerät
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SURAGUS EddyCus TF portable - Schichtwiderstandsmessgerät
EddyCus TF portable Schichtwiderstandsmessgerät Rückseite
SURAGUS EddyCus TF portable Schichtwiderstandsmessgerät Seitenansicht
Mobiles Schichtwiderstandmessgerät für Glas, Folien von SURAGUS

Software und Bedienung

  • Hohe Bedienungsfreundlichkeit
  • Touchdisplay
  • Digitale Messwerterfassung
  • Lange Akkulaufzeit (ca. 10h im Dauerbetrieb)
  • Echtzeit-Erfassung von Schichtwiderstand oder korrelierender Eigenschaften wie Schichtdicke oder Emissivität
Software Schichtwiderstandsmessung SURAGUS TF Portable

Übersicht Produkte Schicht- und Flächenwiderstand

Stephan Adam


Stephan Adam
Sales Manager

+49 (0) 351 321 11-522
info@suragus.com

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Weitere Information eingeben
Welcher physikalische Parameter soll charakterisiert werden? Schichtwiderstand Schichtdicke von leitfähigen Schichten
Zusatzmessung Optische Transparenz Anisotropie Substratdickenmessung
Welchen Messgerättyp suchen Sie? Einzelpunktmessgerät Mapping Messgerät In-line System
Randbedingungen

wie Glas, Folie, Wafer

(in Ohm/sq)

Kommentar

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