Wafer-Charakterisierung

In der Halbleiterindustrie werden Beschichtungs- und Nachbehandlungsprozesse zur Erzielung elektrischer, mechanischer, chemischer, optischer und weiterer Eigenschaften vorgenommen. Diese Prozesse sind Verdampfen, Sputtern, Atomic Layer Deposition, Nassprozesse, Platieren, Annealing und eine Vielzahl weiterer Hochtechnologie-Verfahren. Daraus resultierende Eigenschaften wie Schichtwiderstand, Leitfähigkeit, Permeabilität oder Defektoskopie werden durch die Hochfrequenz-Wirbelstromtechnologie charakterisiert.

 

Messaufgaben

  • Schichtwiderstand
  • Leitfähigkeit
  • Dicke
  • Homogenität
  • Permeabilität
  • Defektoskopie
  • Facetten-Detektion

Einsatzgebiete

  • Eingangskontrolle
  • Beschichtung
  • Annealing
  • Platieren
  • Nassprozesse
  • Bildgebung und Near Edge Monitoring
  • Prozesskontrolle
  • Qualitätskontrolle

Substrate

  • Silizium
  • Siliziumcarbid
  • Galliumnitird
  • Galliumarsenid
  • Saphir (Al2O3)

Prozess

  • Wafer-Level
  • Carrier
  • Batch-Systeme
  • Load-lock-Systeme
  • Cluster-Systeme
  • Inline

Umgebung

  • In-vacuo und ex-vacuo
  • In-situ und ex-situ
  • Inline und offline

Anwendungen

  • Industrieelekronik
  • Leistungselektronik
  • Integrierte Schaltkreise
  • MEMS
  • Microelectronik
  • Mikroprozessoren
  • LED
  • Sensoren
  • Optiken
  • 5G

SEMI Standards

  • SEMI MF673 — Test Method for Measuring Resistivity of Semiconductor Wafers or Sheet Resistance of Semiconductor Films with a Noncontact Eddy-Current Gauge
  • SEMI M59 — Terminology for Silicon Technology
  • SEMI MF81 — Test Method for Measuring Radial Resistivity Variation on Silicon Wafers
  • SEMI MF84 — Test Method for Measuring Resistivity of Silicon Wafers with an In-Line Four-Point Probe
  • SEMI MF374 — Test Method for Sheet Resistance of Silicon Epitaxial, Diffused, Polysilicon, and Ion-Implanted Layers Using an In-Line Four-Point Probe with the Single-Configuration Procedure
  • SEMI MF1527 — Guide for Application of Certified Reference Materials and Reference Wafers for Calibration and Control of Instruments for Measuring Resistivity of Silicon

For characterization of wafer processes in semiconductor industry SURAGUS refers to the following product categories:

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