Non-Destructive Testing Solutions for Composites, Thin-Films and Low and High Conductive Boundary Layers

The German SURAGUS GmbH develops, manufactures and markets measuring and testing solutions based on eddy current testing technology. The wide and high frequency range of EddyCus systems allows the testing of very low to good conductive materials. The EddyCus testing systems are used for the characterization of coatings, fiber reinforced composites and metals, alloys, semiconductors, ceramics or plastics. The Eddy Current systems generate defined electromagnetic fields that interact depending on the amount of material and its properties conductivity (σ), permeability (µr) and permittivity (ε) with the test object. EddyCus testing systems are used for serial testing, process control and quality assurance in large multinational companies, SMEs, testing laboratories and research institutes on five continents. Our customers value the multiplicity of applications, the high accuracy, user-friendly software and our fast service. SURAGUS is driven by innovation, for which the company was awarded with several innovation awards and the title "German hidden champion". The available modular hardware and software platform enables the fulfillment of complex projects in a short period of time.

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Carbon Fiber Testing

Roboter - Carbon Fiber Testing

The EddyCus CF series specially addresses the carbon fiber processing industry. The non-destructive testing portfolio comprise solutions for roving or tow manufacturing, for fiber spreading, weaving and layup, draping/ preforming, injection and infusion (RTM) as well as pultruding processes, composite testing and recycling processes. This involves gap detection, orientation assessment, fiber areal weight (FAW) determination, isotropy testing as well as the detection of further effects and defects in carbon structure and matrix.

Thin Film Inline R2R Sensor System

Non-contact Inline Sheet Resistance Measurement using Eddy Current Technology

The EddyCus TF series comprises solutions for non-contact thin-film characterization. Those are used to measure metal layer thickness, sheet resistance, conductivity, optical density, electrical (an)isotropy or the detection of (in)homogeneities and defects. A further application is the thickness measurement of wet layers and measuring residual moisture after drying processes. Furthermore, solutions for the characterization of boundary layers of bulk materials are used for the detection of near-surface defects or variations in the material composition or the evaluation of structural properties.

If you want to read more about sheet resistance, visit this page.

Thin Film Inline Sensor System

Non-contact Inline Sheet Resistance Measurement for Solar Wafers

Different high effiency wafer based cells are available. Cell and module manufacturing is cost driven. For achieving highest efficiency at lowest manufacturing cost, the following processes have to be monitored:

  • Incoming wafer
  • Metal grid
  • Electrodes
  • Buffer or seed layer
  • Tunnel oxide
  • Passivation layer

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Berührungsloses Schichtwiderstand-Messgerät und Schichtdicken-Messgerät

Der EddyCus TF lab 4040 ist ein Einzelpunktmessgerät zur berührungsfreien Messung des Schichtwiderstands, insbesondere von großen Substraten. Das flexibel konfigurierbare Tischgerät erlaubt die präzise manuelle Messung von leitfähigen Dünnschichten und der Schichtdicke von metallischen Schichten. Das Spektrum der Anwendungen umfasst die Messung von dünnen leitfähigen Schichten, dotierten Wafern und leitfähigen Polymerschichten.

Vorteile

  • Berührungslose Messung in Echtzeit
  • Präzise Schichtwiderstand-Messung von leitfähigen Dünnschichten auf großen Substraten
  • Schichtdickemessung von metallischen Schichten [nm]
  • Bestimmung von verdeckten leitfähigen Schichten
  • Charakterisierung von verkapselten Substraten
  • Export von Messergebnissen

Anwendungen

  • Schichtwiderstand
  • Schichtdicke metallischer Schichten
  • Einzelpunktmessung
  • Qualitätssicherung
  • Substratgrößen: 10 x 10 mm² bis 400 x 400 mm²
  • Messbereich: 0,001 – 3.000 Ohm/sq

Einsatzgebiete

  • Architekturglas (LowE-Schichten)
  • Displays, Touchscreens und Flachbildschirme
  • OLED & LED-Anwendungen
  • Smart-glass Anwendungen
  • Graphen-Schichten
  • Photovoltaik-Wafer und Zellen 
  • Halbleiterwafer
  • Metallische Schichten und Wafermetallisierungen
  • Enteisungsschichten- und Heizanwendungen
  • Batterieelektroden
  • Leitfähiges Papier und leitfähige Textilien
Berühungsfreies Schichtwiederstandsmesssystem zur Bestimmung der Schichtdicke oder des Schichtwiderstands am EddyCus® TF lab 4040SR Berühungsfreies Schichtwiederstandsmesssystem zur Charakterisierung von Dünnschichten EddyCus® TF lab 4040SR Berühungsfreies Schichtwiederstandsmesssystem zur Bestimmung der Schichtdicke oder des Schichtwiderstands am EddyCus® TF lab 4040SR Berühungsfreies Schichtwiederstandsmesssystem zur Bestimmung der Anisotropie EddyCus® TF lab 4040SR-A

Software & Bedienung

  • Hohe Bedienungsfreundlichkeit
  • Intuitive, Touchdisplay-fähige Navigation
  • Echtzeit-Erfassung von Schichtwiderstand und Schichtdicke
  • Sammlung und Speicherung von Datensätzen sowie Datenexport-Funktionen
  • Möglichkeit des softwareunterstützten, manuellen Schichtwiderstand-Mappings 
SURAGUS EddyCus® TF lab Schichtwiderstand-Software mit manuellem Mapping

Weitere Produkte in diesem Bereich

Optische Transparenz

Anisotropie

Messung von optischer Transparenz und Schichtwiderstand: EddyCus® TF lab Hybrid 

Der EddyCus TF lap Hybrid ermöglicht die gleichzeitige Messung von

  • Schichtwiderstand [Ohm/sq]
  • Optische Transparenz [%] / Absorptionsgrad / Optische Dichte

 

Die Herausforderung bei der Entwicklung und Produktion transparenter, leitfähiger Schichten besteht darin, den bestmöglichen Kompromiss zu erreichen zwischen:

  • Niedriger Schichtwiderstand [Ohm/sq]
  • Hohe optische Transparenz [%]
  • Niedrige Kosten [z.B. Euro/m²]

 

Abhängig vom Anwendungsbereich müssen der Schichtwiderstand und die optische Transparenz / optische Dichte jeweils ein bestimmtes Niveau einhalten. Zudem sind die Homogenität von Schichtwiderstand und Transparenz sowie die lokale Fehlerfreiheit von Interesse.

 

Vorteile

  • Berührungslose und simultane Echtzeit-Messung von Schichtwiderstand und optischer Transparenz

Anwendungen

  • Schichtwiderstand und optische Transparenz
  • Optimierung von Schichtsystemen
  • Einzelpunktmessung
  • Qualitätskontrolle, Wareneingangskontrolle, Warenausgangskontrolle
  • Substratgrößen: 10 x 10 mm² bis 400 x 400 mm²
  • Messbereich: 0,001 – 3.000 Ohm/sq Schichtwiderstand und 0 – 100 % optische Transparenz

 

Non-Contact_Pürfung_von_großflächige_Graphene-Proben_SURAGUS_EddyCus_TF_lab_4040_Hybrid
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Weiteres Produkt in diesem Bereich

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Messung von Anisotropie und Schichtwiderstand: EddyCus® TF lab 4040 SR-A

Die Messung der elektrischen Anisotropie ist insbesondere dort relevant, wo eine dünne Schicht in eine bestimmte Richtung sehr leitfähig sein soll, während eine hohe optische Transparenz der Schicht erhalten bleiben soll.

Für die Herstellung bestimmter Schichten sind anisotrope Schichtwiderstände wichtig, um eine möglichst effiziente Beschichtung zu erreichen. SURAGUS bietet Schichtwiderstandsmessgeräte mit integriertem Schichtwiderstands-Anisotropiesensor zur präzisen Bestimmung und Messung gerichteter Schichtwiderstände.

Vorteile

  • Kontaktfreie Messung in Echtzeit
  • Präzise Schichtwiderstandsmessung (Ohm/sq oder mOhm/sq) und manuelles Mapping von leitfähigen Schichten bis zu 400 x 400 mm² Probengröße. 
  • Dickemessung für Substrate mit konstanter Leitfähigkeit (µm)

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